[发明专利]半导体材料纳米线的分散系无效

专利信息
申请号: 200380103483.8 申请日: 2003-11-06
公开(公告)号: CN1711211A 公开(公告)日: 2005-12-21
发明(设计)人: J·E·A·M·范德米拉克;A·范布拉亚德伦;C·M·范卡特斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: B82B3/00 分类号: B82B3/00;C30B33/00;H01L21/306
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李亚非;王忠忠
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 提供一种制造纳米线(104)的方法,根据该方法,通过用交变电流密度阳极刻蚀半导体衬底(10)制备纳米线,从而产生具有不同直径的第一区域(4)和第二区域(5)。之后,优选通过重复氧化和刻蚀步骤减小所述直径。最后,通过超声振动将纳米线(104)分散在分散系中,由此将连结的纳米线分裂成长度基本均匀的独立纳米线。然后给纳米线提供合适材料构成的表面层,例如,发光材料表面层。
搜索关键词: 半导体材料 纳米 分散
【主权项】:
1.一种制造半导体材料纳米线的方法,包括步骤:在由半导体材料构成的衬底表面上提供具有开口的图形化刻蚀掩模,这些开口具有基本均匀的间距;将具有刻蚀掩模的衬底放置在用于半导体材料的液体刻蚀剂中;在某个电流密度下进行阳极刻蚀以形成基本上平行的孔,这些孔的间距和刻蚀掩模中开口的间距相对应,使得所述孔的直径变得至少和所述孔的间距一样大,由此形成纳米线;氧化纳米线的表面,通过刻蚀去除所述表面;以及通过振动从衬底去除纳米线,其特征在于,在第一和第二时间段进行阳极刻蚀,这两个时间段对应于沿纳米线的第一和第二区域,从而使得刻蚀在第二时间段以比第一时间段中高的电流密度发生,以便所形成的纳米线在第一区域比第二区域有更大的直径,结果是去除时纳米线在第二区域断裂。
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