[发明专利]测量装置及荧光测量方法有效
申请号: | 200380103385.4 | 申请日: | 2003-11-13 |
公开(公告)号: | CN1711469A | 公开(公告)日: | 2005-12-21 |
发明(设计)人: | 中岛直也 | 申请(专利权)人: | 爱科来株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 所用的一种测量装置,包括:光源单元1,能够发射具有不同波长的光;光接收单元2,其输出一个电信号,与从与多种染料混合的样本6中发射出的透射光或辐射光的强度相一致;及计算部分3。所述计算部分3使用一预先算出的校正系数,计算出每种染料的透射光或辐射光的荧光强度。所述校正系数是基于所述光接收单元在所述光源单元用具有互不相同的波长的光,照射多个校正样本时所输出的一个电信号求得的,所述每个校正样本与所述多种染料中的一种混合,所述各个混合染料彼此各不相同。 | ||
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【主权项】:
1、一种测量装置,用于测量与多种染料混合的样本,在具有不同波长的光的照射下,每种染料的透射光或辐射光的强度,该测量装置包括:光源单元,能够用具有所述不同波长的光照射所述样本;光接收单元,用于接收所述透射光或辐射光,并输出一个与所述接收光的强度对应的电信号;及计算部分,其中,所述计算部分利用一个校正系数,计算出每种所述染料的透射光或辐射光的强度,所述校正系数是根据在所述光源单元用具有互不相同的波长的光照射多个校正样本中的每一个样本时,所述光接收单元所输出的一个电信号计算得到的,每个校正样本与所述多种染料中的一种混合,并且所述各个被混合的染料彼此各不相同。
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