[发明专利]大型样品的双折射测量方法有效
| 申请号： | 200380101656.2 | 申请日： | 2003-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN1705865A | 公开（公告）日： | 2005-12-07 |
| 发明（设计）人： | 安德鲁·D·卡普兰;詹姆斯·C·曼斯菲尔德;道格拉斯·C·马克 | 申请（专利权）人： | 海因兹仪器公司 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 顾红霞;陆弋 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明是关于准确测定光学元件大型样品的双折射性质的系统和方法。使用一个像托台一样的结构，从而使双折射检测系统的元件相对于样品准确移动。在此还提供了一种有效的大型样品固定器，在给予双折射检测光束无阻碍通过样品大的面积的同时，给样品提供足够的支撑使其可以有效的支撑样品防止在此引发双折射。 | ||
| 搜索关键词： | 大型 样品 双折射 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种在引导光束通过样品的光学装置中支撑样品的方法，该方法包括以下步骤：在多个间隔开的长部件上支撑该样品。
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