[发明专利]半导体装置及其检验方法有效
| 申请号： | 200380100622.1 | 申请日： | 2003-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN1692285A | 公开（公告）日： | 2005-11-02 |
| 发明（设计）人： | 古山孝昭 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 权鲜权 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体装置，能够采用简单的电路结构缩短检验时间，抑制检验用的电路面积的增加。半导体装置(10)具有与逻辑部混装的微存储器(11)。微存储器(11)包含动作控制电路(12)，该动作控制电路(12)根据包含地址、数据和指令的输入信号，执行数据的读出/写入动作。在利用地址选择的微存储器(11)的存储器区域内设置有测试寄存器(16)，该测试寄存器(16)存储用于选择测试模式的数据。写入电路(15)响应于从动作控制电路(12)提供的写入指令，生成允许向测试寄存器(16)写入数据的控制信号(RGT)。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 及其 检验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，该半导体装置将逻辑部和存储部混装，并具有测试模式，其特征在于，前述存储部具有：动作控制电路，从前述逻辑部接收包含地址、数据和指令的输入信号，根据前述输入信号，执行前述数据的读出/写入动作；测试用存储电路，与前述动作控制电路连接，设置在可利用前述地址进行选择的前述存储部的存储器区域内，存储用于选择前述测试模式的数据；以及写入电路，与前述动作控制电路和测试用存储电路连接，根据前述输入信号，响应于从前述动作控制电路提供的写入指令，生成用于允许向前述测试用存储电路写入数据的控制信号。
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