[实用新型]电子及测试业治具中探针组件与导线的导通结构无效
| 申请号： | 200320117918.1 | 申请日： | 2003-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN2660540Y | 公开（公告）日： | 2004-12-01 |
| 发明（设计）人： | 王云阶 | 申请（专利权）人： | 王云阶 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市中知专利代理有限责任公司 | 代理人： | 宋湘红 |
| 地址： | 518102广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型为一种治具中探针组件与导线的连接导电结构，包括探针组件和导线，探针组件设置在治具层板的穿孔中，探针组件中探针的头部露出于治具的表面，导线的一端设置在治具层板的穿孔中，位于探针组件尾部的正下方，探针组件的尾部与导线通过直接或间接接触的方式导通。本实用新型便于更换和维修各部件，且探针组件中与导线固定连接的部件如弹簧可重复使用，提高了利用率，降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 测试 业治具中 探针 组件 导线 结构 | ||
【主权项】：
1.一种电子及测试业治具中探针组件与导线的导通结构，包括探针组件和导线，探针组件设置在治具层板的穿孔中，探针组件中探针的头部露出于治具的表面，其特征在于：所述导线的一端设置在治具层板的穿孔中，位于探针组件尾部的正下方，探针组件的尾部与导线通过直接或间接接触的方式而导通。
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