[发明专利]干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法无效

专利信息
申请号: 200310124761.X 申请日: 2003-12-31
公开(公告)号: CN1635347A 公开(公告)日: 2005-07-06
发明(设计)人: 相里斌;计忠瑛;王忠厚 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/26 分类号: G01J3/26
代理公司: 西安新思维专利事务所有限公司 代理人: 徐平
地址: 710068陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法,利用干涉型超光谱成像仪系统原理的特点,在一次像面上引入定标光源,在探测器像面上产生干涉图,实现星上相对定标。本发明解决了背景技术易产生机械故障,星上定标的可靠性低的技术问题。其定标光源引入点的位置及定标光源大小均可据系统结构的条件、探测器响应动态范围的要求选择,干涉图的强度高,系统可靠性亦较高。
搜索关键词: 干涉 光谱 成像 仪星上 一次 定标 方法
【主权项】:
1.一种干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法,其特征在于:该方法的实现步骤包括1).定标光源(11)经定标系统(12),产生可在狭缝(4)处成像的定标光(13);2).使定标光(13)成像于一次像面(9)上;3).一次像面(9)上的像,通过干涉仪(5)、付里叶镜(6)、柱面镜(7)到达二次像面(8),系统输出星上定标值;4).将系统的星上定标值与该系统在地面定标时的地面定标值进行比较,完成星上定标。
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