[发明专利]包括扫描测试电路的集成电路器件及其测试方法无效
| 申请号： | 200310123279.4 | 申请日： | 2003-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN1519573A | 公开（公告）日： | 2004-08-11 |
| 发明（设计）人： | 郑胜在;金容天 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G11C29/00;H01L21/66;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邸万奎;黄小临 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种包括具有多个输出端口、多个输入端口和向量输入端的核心块的集成电路器件。核心块响应来自输入端口的输出数据，产生核心内部数据。核心块配置为在扫描测试期间输出核心内部数据，并响应核心内部数据或来自向量输入端的测试向量串行输入数据，为每个输出端口有选择地产生核心输出数据。输入侧子逻辑电路单元配置为适用于动态仿真测试，并耦接到核心块的输入端口。输入侧子逻辑电路单元响应输入到第一子逻辑电路单元的数据，为多个输入端口产生子数据。核心块和第一子逻辑电路单元之间的多路复用器(MUX)单元响应MUX控制信号，有选择地提供子数据或输出数据作为核心块的输入端口的输入。还提供了测试集成电路器件的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 包括 扫描 测试 电路 集成电路 器件 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路器件，包括：核心块，配置为用于动态仿真测试，具有相关联的多个输出端口，其中，该核心块响应输入到核心块的多个输入端口的多个输出端口的输出数据，为多个端口产生核心输出数据；输入侧子逻辑电路单元，配置为用于动态仿真测试，并与核心块的输入端口耦接，响应输入到第一子逻辑电路单元的数据，为多个输入端口产生子数据；以及多路复用器(MUX)单元，位于核心块和第一子逻辑电路单元之间，响应MUX控制信号，有选择地提供子数据或输出数据作为核心块输入端口的输入。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200310123279.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
