[发明专利]晶圆快速冷却退火的方法和装置有效
| 申请号: | 200310122958.X | 申请日: | 2003-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN1635615A | 公开(公告)日: | 2005-07-06 |
| 发明(设计)人: | 郭佳衢 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/324 | 分类号: | H01L21/324;H01L21/477;C30B33/02 |
| 代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 陈红 |
| 地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 一种半导体衬底的退火方法。该方法包括打开至少一个热源,在加热室中加热半导体衬底,关闭所述至少一个热源,并且在所述加热室中冷却所述半导体衬底。加热半导体衬底包括由所述半导体衬底从所述至少一个热源吸收能量。此外,冷却半导体衬底包括在加热室的至少一个壁附近流动第一气体,在所述至少一个热源附近流动第二气体,以及在半导体衬底附近流动第三气体。 | ||
| 搜索关键词: | 快速 冷却 退火 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体衬底的退火方法,所述方法包括:打开至少一个热源;在加热室中加热半导体衬底;关闭所述至少一个热源;在所述加热室中冷却所述半导体衬底;其中所述加热半导体衬底包括将所述半导体衬底的温度从第一温度值提升到第二温度值;所述冷却所述半导体衬底包括将所述半导体衬底的温度从所述第二温度值降低到第三温度值;所述加热半导体衬底包括由所述半导体衬底从所述至少一个热源吸收能量;所述冷却所述半导体衬底包括在所述加热室的至少一个壁附近流动第一气体,在所述至少一个热源附近流动第二气体,以及在所述半导体衬底附近流动第三气体;所述第一气体的第一温度低于所述第二温度值;所述第二气体的第二温度低于所述第二温度值;所述第三气体的第三温度低于所述第二温度值。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





