[发明专利]光刻装置、器件的制造方法及由此制得的器件有效
| 申请号: | 200310121698.4 | 申请日: | 2003-12-19 |
| 公开(公告)号: | CN1510518A | 公开(公告)日: | 2004-07-07 |
| 发明(设计)人: | L·H·J·斯特文斯;M·H·A·里德斯;H·梅林;J·H·J·莫尔斯 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
| 主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F7/00;H01L21/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 章社杲 |
| 地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明披露了各种新颖的清洁方法。先前的清洁方法普遍在于它们都包括将氧气注入整个系统内并将提供清洁辐射光束的单个辐射源接入到光刻装置内的每个光学元件。这会导致一些光学元件的过度曝光,而同时其它的光学元件并未被足够程度地清洁。通过提供一种系统就可以克服这一问题,该系统允许选择性地清洁一些或一组光学元件,且允许在光学元件的表面上出现空间变化的清洁。这可以通过仅仅向一个或一些光学元件供给清洁辐射光束和/或通过增加某些光学元件附近的局部氧气密度来实现。通过使用可以是动态自适应的灰色滤光片或者通过使用可控制的电子束部件就能够获得空间分解的清洁。 | ||
| 搜索关键词: | 光刻 装置 器件 制造 方法 由此 | ||
【主权项】:
1.一种光刻投射装置,包括:-用于提供辐射投射光束的辐射系统;-用于支撑构图部件的支撑结构,所述构图部件用于根据期望的图案对投射光束进行构图;-用于固定基底的基底台;-用于将图案光束投射到基底目标位置上的投射系统;和-形成所述辐射系统、所述构图部件和/或所述投射系统一部分的数个光学元件,其特征在于清洁部件采用清洁辐射光束和气体中至少一种来清洁所述光学元件的个别部件或所述光学元件的子集。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于ASML荷兰有限公司,未经ASML荷兰有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200310121698.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。





