[发明专利]接触检测装置无效
| 申请号： | 200310120162.0 | 申请日： | 2003-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN1508524A | 公开（公告）日： | 2004-06-30 |
| 发明（设计）人： | 杉森透;荻野弘之;植田茂树;礒谷守;福田祐 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01L1/16 | 分类号： | G01L1/16 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 张立岩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的接触检测装置中设有：可弯曲的电缆状压电传感器；和根据所述压电传感器的输出信号检测物体是否与所述压电传感器相接触的接触检测电路(9)。所述接触检测电路(9)由导电性筒状盒体(11)加以覆盖，所述导电性筒状盒体(11)具有与所述接触检测电路(9)的地电位相连接的结构。这样，无需进行打开/关闭盖子的操作就可以将接触检测电路(9)设置到盒体内部，组装过程可以简化。另外，整个盒体的构造也将变成1个部件的简单构成，盒体的制造成本也可以降低。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种接触检测装置，其特征在于包括：可弯曲的电缆状压电传感器；和根据所述压电传感器的输出信号检测物体是否与所述压电传感器相接触的接触检测电路，所述接触检测电路由导电性筒状盒体加以覆盖，所述导电性筒状盒体具有与所述接触检测电路的地电位相连接的结构。
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