[发明专利]高精度超低速双轴伺服测试用的测试转台无效

专利信息
申请号: 200310115538.9 申请日: 2003-11-28
公开(公告)号: CN1546951A 公开(公告)日: 2004-11-17
发明(设计)人: 李庆祥;郭阳宽;李玉和;巩娟;陈张玮;杨再华 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 高精度超低速双轴伺服测试用的测试转台属于运动伺服技术领域,其特征在于:它以多传感器与高精密减速器配合实现系统的高精度超低速控制,即利用成对使用的高精度角位移传感器构成互补式测量组件,实现了系统的高精度实时运动参数及系统变形量的测量;利用位于各力矩电机和内外框架之间的减速器实现微位移和小位移的转换、大转动惯量和小转动惯量的转换,以利用较小的力灵活地驱动测试转台。当选择角位置传感器分辨率为1″时,系统跟踪速度低于1(″/时秒);系统角跟踪和测量精度为±1.5。
搜索关键词: 高精度 低速 伺服 测试 转台
【主权项】:
1.高精度超低速双轴伺服测试用的测试转台,含有内、外框架结构组件,其特征在于:它含有:内框架结构组件,它包含:内框架41,轴5y1、5y2,它沿内框架41的y方向分别和内框架41固定连接,减速器3y,它与轴5y1同轴转动连接,力矩电机2y,它与减速器3y、轴5y1同轴转动连接,角位置测量传感器1y1、1y2,其中,所述传感器1y1与力矩电机2y、减速器3y、轴5y1 同轴转动连接,所述传感器1y2与轴5y2同轴转动连接;外框架结构组件,它包含:外框架42,它分别与轴5y1、5y2沿y方向转动连接,轴5x1、5x2,分别沿x方向与外框架42固定连接,减速器3x,它与轴5x1同轴转动连接,力矩电机2x,它与减速器3x、轴5x1同轴转动连接,角位置测量传感器1x1、1x2,其中,所述传感器1x1与力矩电机2x、减速器3x、轴5x1 同轴转动连接,所述的传感器1x2,它与轴5x2同轴转动连接;支座6,它的两侧分别在x方向上的外框架42与角位置测量传感器1x2之间、x方向上的外框架42与减速器3x之间的两个位置上与轴5x2、轴5x1同轴转动连接。
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