[发明专利]飞秒级超短光脉冲测量方法及装置无效
| 申请号： | 200310112917.2 | 申请日： | 2003-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN1554931A | 公开（公告）日： | 2004-12-15 |
| 发明（设计）人： | 万江文;凌坚 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100876*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种测量飞秒级光脉冲的测量方法及装置。该装置能实现对脉宽达到飞秒级超短光脉冲的快速实时测量，在结构上不需要移动的延迟设备，有利于设备集成化；在算法上快速简便。装置能很好地解决超短光脉冲的测量，其原理是把一个本地同频率的零差脉冲和复制脉冲同时与一强啁啾脉冲发生两次上频转换，把两次上频转换产生的相位差经过傅立叶变换得到原始脉冲的相位信息。装置为超短光脉冲测量提供一种便于集成化和快速实时的测量工具，能够测量脉宽低于10飞秒的光脉冲。有广泛的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 飞秒级 超短 脉冲 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种超短光脉冲测量装置，其特征在于：该仪器包括有下列部件：(1)啁啾产生器16；(2)分束器17；(3)偏振控制器18；(4)延迟控制器19，是由反射镜1、2和透射反射镜4构成；(5)反射镜1、2、3、5、6、7、8、9、10，反射镜3、6表面为镀金金属膜，反射镜1、2、5、7、8、9、10表面为镀银金属膜；(6)聚焦镜11；(7)非线性晶片13；(8)多通道分析仪14；(9)微机15。
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