[发明专利]光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置及其测量方法无效

专利信息
申请号: 200310109410.1 申请日: 2003-12-15
公开(公告)号: CN1546962A 公开(公告)日: 2004-11-17
发明(设计)人: 方祖捷;瞿荣辉;蔡海文;李琳 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02;G01J3/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置及其测量方法,本发明光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量装置,其特征在于包括一四端光纤耦合器,其第一端口经一光隔离器与一可调谐激光器的输出端相连,第二端口接待测光纤光栅,第三端口经光纤调相器接反射式可变延时器,第四端口接光信号接收器。利用本发明光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量装置进行光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量的方法具有简单方便,成本低廉,适用面较广等优点。
搜索关键词: 光纤 光栅 群时延 差动 干涉 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
1、一种光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量装置,其特征在于包括一四端光纤耦合器(4),其第一端口(41)经一光隔离器(5)与一可调谐激光器(6)的输出端相连,第二端口(42)接待测光纤光栅(1),第三端口(43)经光纤调相器(3)接反射式可变延时器(2),第四端口(44)接光信号接收器(7)。
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