[发明专利]测量液晶显示面板研磨量的设备和方法有效
| 申请号： | 200310103880.7 | 申请日： | 2003-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN1508593A | 公开（公告）日： | 2004-06-30 |
| 发明（设计）人： | 秋宪铨;金德铉;沈和燮;林种高 | 申请（专利权）人： | LG.菲利浦LCD株式会社 |
| 主分类号： | G02F1/133 | 分类号： | G02F1/133 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 徐金国;梁挥 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备包括一用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的研磨单元，一用来产生单元液晶显示面板的上边缘部分研磨面图像的第一成像系统，以及一用来产生单元液晶显示面板的下边缘部分研磨面图像的第二成像系统。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 液晶显示 面板 研磨 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备，包括：一用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的研磨单元；一用来产生单元液晶显示面板上边缘部分研磨面图像的第一成像系统；以及一用来产生单元液晶显示面板下边缘部分研磨面图像的第二成像系统。
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