[发明专利]薄膜晶体管显示器数组的测试电路及方法有效
| 申请号： | 200310103118.9 | 申请日： | 2003-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN1611954A | 公开（公告）日： | 2005-05-04 |
| 发明（设计）人： | 郭光义;田孝通 | 申请（专利权）人： | 浩威科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 台湾省台中*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种薄膜晶体管显示器电路的测试电路及方法，用以测试薄膜晶体管数组的好坏，测试电路包含：一数组测试机台、一被测物台座、一感测放大器数组。其特征为：该感测放大器数组由多个转移阻抗放大器(transimpedance amplifier unit)及寄生电容放电电路组成，每一感测放大器包括：一转移阻抗放大器，由一运算放大器，两个开关及一个操作电容器组成，此转移阻抗放大器用以形成积分电路，其输出经一输出开关传送给取样/保持电路，经模拟/数字转换器转换为数字信号；一薄膜晶体管数组的源极线寄生电容放电电路，此放电电路用以形成寄生电容的电荷的放电路径。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜晶体管 显示器 数组 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种薄膜晶体管显示器数组的测试电路，用以测试薄膜晶体管数组的好坏，至少包含：一数组测试机台，用以提供电源，测试信号波形，以分析计算储存所得结果；一被测物台座，用以置放薄膜晶体管数组，并由数组测试机台提供控制信号及测试放大器控制信号；一感测放大器数组，用以将薄膜晶体管数组的源极寄生电容转移(放电)及将像素储存电容的电荷电流予以积分，其特征为：该感测放大器数组由多个转移阻抗放大器放大器及寄生电容放电电路组成，每一感测放大器包括：一转移阻抗放大器，由一放大电路，两个开关，一个操作电容器组成，该操作电容，将输出回授至放大器的负输入端；一开关连结于运算放大器的负输入端及输出端，短路该操作电容使的放电之用；另一开关作输入端的开关，以决定是否与薄膜晶体管数组的像素储存电容连接，此转移阻抗放大器用以形成积分电路，其输出经一输出开关传送给取样/保持电路，经模拟/数字转换器转换为数字信号；一薄膜晶体管数组的源极线寄生电容放电电路，由一放大电路，两个开关，一个操作电容组成，该操作电容将输出回授至放大器的负输入端，一开关连结于运算放大器的负输入端及输出端，供短路该操作电容使的放电之用，另一开关作输入端的开关，以决定是否与薄膜晶体管数组的源极线寄生电容连结，一负载电阻连接运算放大器的输出至接地，此放电电路用以形成寄生电容的电荷的放电路径。
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