[发明专利]半导体器件及其引线座、制作该器件的方法和电子设备无效

专利信息
申请号: 200310102967.2 申请日: 2003-10-31
公开(公告)号: CN1501486A 公开(公告)日: 2004-06-02
发明(设计)人: 高仓英也 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/50;H01L21/48
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽;马莹
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种在半导体器件中使用的引线座,该引线座包括多个平行的第一引线和多个平行的第二引线。第一引线的间距与第二引线的间距不同,并且第一引线与第二引线首尾相连。为了得到用于DIP封装的引线座,将第一引线封装在外壳中,并且使第二引线从外壳中伸出。为了得到用于SOP封装的引线座,使第一引线和第二引线都从外壳中伸出,并且随后将第二引线截断。
搜索关键词: 半导体器件 及其 引线 制作 器件 方法 电子设备
【主权项】:
1.一种用于半导体器件的引线座,该引线座包括多个平行的第一引线和多个平行的第二引线,其中,第一引线的间距与第二引线的间距不同,并且第一引线与第二引线首尾相连。
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