[发明专利]用以解决集成电路实体设计中时序违反问题的方法和系统无效
| 申请号： | 200310101893.0 | 申请日： | 2003-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN1497707A | 公开（公告）日： | 2004-05-19 |
| 发明（设计）人： | 张常欣;王芃芃;庄叔民 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/82 | 分类号： | H01L21/82;G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京申翔知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周春发 |
| 地址： | 台湾省台北县*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种根据一“违反时序可能性”概念所建构的选择性在位最适化(In Place Optimization)程序以给予位于一关键路径中的组件与内联机优先处理顺序。其中，本发明藉由一使用者输入条件选择具有较高“违反时序可能性”的组件与内联机(或两者同时)，并仅针对所选择的组件或内联机(或两者同时)进行处理。与传统在位最适化程序相较，本发明可藉由上述的选择性在位最适化程序步骤以减少关键路径以及关键路径中的最差负迟缓(worstnegative slacks，WNS)的总数。 | ||
| 搜索关键词： | 用以 解决 集成电路 实体 设计 时序 违反 问题 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种用以解决集成电路实体设计中由组件及内联机所组成的网状结构的时序违反问题的方法，该方法包含：针对该网状结构执行一时序分析程序以选择出于该网状结构中至少一个具有一违反时序可能性的组件与内联机；以及执行一选择性在位最适化程序，其中，该选择性在位最适化程序包含一辨认程序以辨认该网状结构中具有最大该违反时序可能性的组件或内联机，并随后针对所辨认出的该组件或该内联机执行一在位最适化程序。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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