[发明专利]一种弱物质量值的测试方法及其测试仪无效
| 申请号： | 200310100107.5 | 申请日： | 2003-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN1605837A | 公开（公告）日： | 2005-04-13 |
| 发明（设计）人： | 李启山 | 申请（专利权）人： | 李启山;李莹 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 101500北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种弱物质量值的测试方法及其测试仪，涉及物理学在科研方面对弱物质量值测试的方法及其测试仪。其技术特征：即利用迈斯纳(W.Meissner)效应作用于包括对引力场性质的弱物质在内的所有弱物质，制造一个超导体螺旋桨，使之在超导状态下高速旋转煽动弱物质在超导管内流动，测试弱物质在一定面积内以一定流速作用于天平或质量感应器具上面放置的超导片产生的压强，据此方法来掌握弱物质质量等相关量值，并遵循于此方法制成测试仪。通过这一方法及其测试仪的实施，可以很方便的掌握弱物质的质量及相关量值，以此来提高人类社会的科学发展水平。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 物质 量值 测试 方法 及其 测试仪 | ||
【主权项】：
1、一种弱物质量值的测试方法及其测试仪，其特征是，即利用迈斯纳(W.Meissner)效应作用于包括对引力场性质的弱物质在内的所有弱物质，制造一个超导体螺旋浆(13)，使之在超导状态下高速旋转煽动弱物质在超导管(18)内流动，测试弱物质在一定面积内以一定流速作用于天平(3)或质量感应器具上面放置的超导片(19)产生的压强，据此方法来掌握弱物质质量等相关量值，并遵循于此方法制成测试仪。
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