[其他]一种折射率测试系统在审

专利信息
申请号: 101985000000867 申请日: 1985-04-01
公开(公告)号: CN85100867B 公开(公告)日: 1988-03-16
发明(设计)人: 林为干;杨淑雯;邹景荣;叶昆琤 申请(专利权)人: 成都电讯工程学院
主分类号: 分类号:
代理公司: 电子科技大学专利中心 代理人: 马新民
地址: 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种具有反射型光纤传感器的折射率测试系统。该系统由反射型光纤传感器、驱动电源、光源、信号处理设备、终端设备及连接这些部件的光纤或电缆组成。反射型光纤传感器有无源和有源两种,其内部结构有多种不同形式。使用本发明能连续测量折射率及其相关的物理量,如浓度、密度等。本发明克服了常规光学仪器结构复杂庞大、灵活性差的缺点,又克服了现有光纤传感器的灵敏度低、结构不大牢固的缺点。
搜索关键词: 一种 折射率 测试 系统
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