[发明专利]光学对准检测系统有效
| 申请号： | 03824430.6 | 申请日： | 2003-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN1688865A | 公开（公告）日： | 2005-10-26 |
| 发明（设计）人： | B·S·弗里茨;P·罗伊蒂曼;A·帕德马纳布汉 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27;G01B11/00;G01N15/14 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳;王忠忠 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供一种用于检测第一物体相对第二物体对准的光学对准检测系统。使用一个或多个光源和一个或多个光检测器，它们两者或者其中之一相对第二物体固定，以检测该第一物体上的一个或多个光散射元件的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 对准 检测 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测第一物体相对第二物体对准的光学对准检测系统，该光学对准系统包括：一个或多个相对该第一物体固定的光散射元件；两个或多个相对该第二物体固定的光源，所述两个或多个光源用于提供光，以使来自至少一光源的光束与所述一个或多个光散射元件相交，以产生一个散射光轮廓；和一个或多个用于检测该散射光轮廓的检测器。
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