[发明专利]用于管理盘中的盘缺陷的方法和设备以及在其上管理缺陷的盘有效

专利信息
申请号: 03824066.1 申请日: 2003-09-23
公开(公告)号: CN1689100A 公开(公告)日: 2005-10-26
发明(设计)人: 高祯完;李坰根;黄盛凞 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 韩明星;常桂珍
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种用于使用盘中的临时缺陷管理区域来管理盘中的盘缺陷的方法和设备,以及盘,其中,该方法包括:将用户数据记录在数据区域中;和将关于记录在数据区域中的用户数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在存在于引入区域和引出区域的至少一个中的临时缺陷管理区域中。因此,该方法和设备可应用到可记录的盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。
搜索关键词: 用于 管理 中的 缺陷 方法 设备 以及
【主权项】:
1、一种针对记录和/或再现设备可使用的盘,该盘包括:数据区域,在其中记录用户数据;和引入区域和引出区域中的至少一个,与数据区域相邻,并且包括临时缺陷管理区域,该临时缺陷管理区域包括关于记录在数据区域中的用户数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息,并且由记录和/或再现设备可访问以对盘执行缺陷管理。
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