[发明专利]性能监控器及其方法有效
| 申请号： | 03822821.1 | 申请日： | 2003-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN1685317A | 公开（公告）日： | 2005-10-19 |
| 发明（设计）人： | 卡洛斯·J·卡布拉尔;乔斯·M·努内兹 | 申请（专利权）人： | 飞思卡尔半导体公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 黄启行;谢丽娜 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明实施例总的来说涉及根据尺寸阈值(206，216)、粒度阈值(208，218)以及距离阈值时间(210，220)来对选定事件类型合格组数目计数的监测单元和方法。在一个实施例中，合格组是满足尺寸阈值和粒度阈值的组。在一个实施例中，如果一个合格组在前一计数合格组的至少距离阈值时间之后出现，则检测到合格组并由组计数器计数。例如，在一个实施例中，性能监控器(104)在检测下一合格组之前等待直至距离阈值时间到期。替代的，在仅当合格组在前一合格组之后至少距离阈值时间出现才对合格组计数的情况下，检测所有合格组，而不管是否由组计数器计数。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 监控器 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种性能监控器，包括：输入，用于接收事件指示；连接到所述输入的控制逻辑，该控制逻辑用于确定事件的合格组的出现满足尺寸阈值以及粒度阈值；连接到所述控制逻辑的计数器，该计数器指示事件的合格组的数目，由该计数器指示的每个后一合格组在由该计数器指示的前一合格组之后至少距离阈值时间出现。
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