[发明专利]基于阻抗的检测装置和方法有效
| 申请号： | 03822454.2 | 申请日： | 2003-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN1681938A | 公开（公告）日： | 2005-10-12 |
| 发明（设计）人： | 王小波;徐晓 | 申请（专利权）人： | 美国艾森生物科学公司 |
| 主分类号： | C12Q1/02 | 分类号： | C12Q1/02;C12M1/34 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李波;王景朝 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了检测电极表面的细胞和/或分子的装置。该装置通过测量由细胞和/或分子导致的阻抗的改变来检测细胞和/或分子。装置的一个公开的实施方案包括一个带有沿着长轴的两个相对末端的基片。多个电极阵列(100)被定位于基片上。每个电极阵列包括至少两个电极(110，120)，并且在电极阵列中，每个电极通过绝缘材料区域与至少一个相邻的电极分开。电极在它的最宽点的宽度为绝缘材料区域宽度的约1.5倍到10倍。装置也包括导电迹线(125。130)，它们基本沿长轴延伸到基片的两个相对末端中的一个，并且与其它导电迹线(125，130)是互不交错的。每条迹线与至少一个电极阵列电连通。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 阻抗 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于通过测量由细胞或分子贴附或结合于电极表面而引起的阻抗变化来检测电极表面的细胞或分子的装置，该装置包括：a)具有沿纵轴的两个相对末端的绝缘基片；b)位于基片上的多个电极阵列，其中每个电极阵列包括至少两个电极，并且其中每个电极通过绝缘材料区域与至少一个相邻电极隔开，所述电极最宽点的宽度大于绝缘材料区域宽度的约1.5倍并且小于绝缘材料区域宽度的约10倍；以及c)基本沿纵轴延伸至基片的两个相对末端中的一个的导电迹线，并且其中每条迹线与至少一个电极阵列电连通。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国艾森生物科学公司，未经美国艾森生物科学公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/03822454.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
