[发明专利]用于光盘的缺陷探测装置有效
| 申请号： | 03822357.0 | 申请日： | 2003-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN1682108A | 公开（公告）日： | 2005-10-12 |
| 发明（设计）人： | 上田英司;岸本隆;山田真一 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G11B7/004;G11B7/125 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了一种即使当激光源的发射功率发生变化时，也能够在光盘上精确探测灰尘和缺陷的缺陷探测装置。该缺陷探测装置设置有用于通过反射光在光盘上探测缺陷等的缺陷探测单元，以及用于将激光源的发射功率调节到最佳值的功率调节单元。即使当激光功率改变时，该缺陷探测单元也能通过对阈值和根据反射光的值进行比较而精确地探测缺陷，其中该阈值根据功率调节单元的调节结果确定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光盘 缺陷 探测 装置 | ||
【主权项】：
1、一种缺陷探测装置，当使用激光源产生的光束对信息介质进行记录/再现信息信号时，在不能记录或者再现的该信息介质上探测缺陷，该缺陷探测装置包括：功率调节单元，用于将该激光源的发射功率调节到最佳值；以及缺陷探测单元，用于对根据该激光源的发射功率所确定的阈值和与该信息介质的信息层所反射光束的反射光相对应的数值进行比较，并根据比较的结果探测该信息层上的缺陷，其中该发射功率由该功率调节单元调节。
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