[发明专利]电化学处理半导体基片的方法和形成电容器结构的方法无效
| 申请号: | 03821875.5 | 申请日: | 2003-07-10 | 
| 公开(公告)号: | CN1682352A | 公开(公告)日: | 2005-10-12 | 
| 发明(设计)人: | D·W·科林斯;R·H·莱恩;R·J·克莱因 | 申请(专利权)人: | 微米技术有限公司 | 
| 主分类号: | H01L21/288 | 分类号: | H01L21/288;H01L21/02 | 
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 卢新华;庞立志 | 
| 地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US | 
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 | 
| 摘要: | 本发明包括电化学处理半导体基片的方法。本发明包括一种电镀物质的方法。提供一种被限定第一区域(60)及第二区域(70)的基片。第一区域和第二区域可以通过单掩模的方法加以限定,因此,可以认为是彼此相关的自调整的。第一导电材料(50)是在基片第一区域形成的,第二导电材料(42)是在第二区域形成的。将第一和第二导电材料置于一种电解溶液中,同时对第一和第二导电材料提供电流。在将第一和第二导电材料置于电解溶液的过程中,所需物质即被选择性地电镀在第一导电材料上。本发明也包括形成电容器结构的方法。 | ||
| 搜索关键词: | 电化学 处理 半导体 方法 形成 电容器 结构 | ||
【主权项】:
                1.一种电化学处理半导体基片的方法,包括:在基片上形成一层掩模;此掩模具有由此延伸穿越并从而限定该基片两个区域的通路;此两个区域的第一区域是在通路以下,因此未被掩模覆盖,而第二区域是被掩模覆盖的基片部分;延伸这些通路从掩模至基片第一区域中,随后脱除该掩模;在此半导体基片的第一区域上形成第一导电材料,并在该半导体基片的第二区域上形成第二导电材料,此第二导电材料延伸进入该基片的通路中,使电流流过第一及第二导电材料,同时至少将第一导电材料置于一种电解溶液中;和在电流流过第一及第二导电材料过程中选择性地处理与第二导电材料相关的第一导电材料。
            
                    下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
                
                
            该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于微米技术有限公司,未经微米技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/03821875.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
                    H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
                
            H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





