[发明专利]质谱分析设备和方法有效
| 申请号： | 03818325.0 | 申请日： | 2003-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN1672238A | 公开（公告）日： | 2005-09-21 |
| 发明（设计）人： | I·卡林依特成科 | 申请（专利权）人： | 美国瓦里安澳大利亚有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/26 | 分类号： | H01J49/26 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 吴明华 |
| 地址： | 澳大利亚*** | 国省代码： | 澳大利亚;AU |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种质谱仪，其中当含有分析物离子的等离子体(28)通过孔(42)时，将一物质引入等离子体(28)内，该孔例如在两真空区(38)和(44)之间的分流圆锥(40)内，以致该物质与等离子体(28)相互作用，从而通过反应的或碰撞的相互作用降低在等离子体中的干扰的多原子或多电荷离子的浓度。可以通过具有在分流圆锥(40)内的出口的通道供应该物质。因为当孔(42)大体上径向限制等离子体时和在提取离子束(58)之前，将物质直接供应进入等离子体(28)，所以本发明干扰离子的衰减得到改善。或者或附加地可以直接将物质供应进入在取样圆锥(34)内的孔(36)中的等离子体内。 | ||
| 搜索关键词： | 谱分析 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种质谱仪，它包括用于提供分析物离子的等离子体离子源，质量分析器，在等离子体离子源和质量分析器之间的界面，该界面包括-结构，该结构将-第一区与第二区分开，该第一区处于较高压力之下、并接受来自等离子体离子源的等离子体，该第二区处于较低压力下、并通至质量分析器，并且该结构提供在第一较高压力区和第二较低压力区之间的-孔，等离子体通过该孔从较高压力区流向较低压力区，该界面结构包括用于将物质供应入该孔以与等离子体相互作用的通道，以便通过反应的或碰撞的相互作用衰减多原子或多电荷的干扰离子。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国瓦里安澳大利亚有限公司，未经美国瓦里安澳大利亚有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/03818325.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
