[发明专利]校准激光标记系统中的标记的方法有效

专利信息
申请号: 03809410.X 申请日: 2003-04-25
公开(公告)号: CN1650428A 公开(公告)日: 2005-08-03
发明(设计)人: 金炳焕;李晸求;边英植;权九彻;金泰政 申请(专利权)人: EO技术株式会社
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱进桂
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 在用于校准激光标记系统中的标记的方法中,(a)将要观察的每个芯片分配给相应的视觉照相机,(b)匹配视觉照相机的坐标和激光标记器的坐标,(c)将预定的第一符号标记在芯片上或者标记在与芯片相对应的位置,利用相应的视觉照相机观察所选择的第一符号,并将所述第一符号的一点训练为基准点,(d)利用相应的视觉照相机观察所述第一符号和所述芯片的基准点,并相对于所述基准点,在所述芯片上标记第二符号,(e)观察所述芯片上的第二符号,并将所述第二符号的一点训练为比较点,以及(f)根据所述芯片上的所述基准点,检测所述比较点的位置,并计算每个单元中的标记误差。
搜索关键词: 校准 激光 标记 系统 中的 方法
【主权项】:
1、一种用于校准激光标记系统中的标记的方法,所述激光标记系统包括:激光标记器,在利用多个视觉照相机观察包含在托架的单元内的芯片的同时,进行标记;以及后视觉照相机,检测标记误差,所述方法包括以下步骤:(a)将要观察的每个芯片分配给相应的视觉照相机;(b)匹配视觉照相机的坐标和激光标记器的坐标;(c)将预定的第一符号标记在芯片上或者标记在与芯片相对应的位置,利用相应的视觉照相机观察所选择的第一符号,并将所述第一符号的一点训练为基准点;(d)利用相应的视觉照相机观察所述第一符号和所述芯片的基准点,并相对于所述基准点,在所述芯片上标记第二符号;(e)观察所述芯片上的第二符号,并将所述第二符号的一点训练为比较点;以及(f)根据所述芯片上的所述基准点,检测所述比较点的位置,并计算每个单元中的标记误差。
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