[发明专利]X射线检测器无效
| 申请号： | 03807136.3 | 申请日： | 2003-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN1643399A | 公开（公告）日： | 2005-07-20 |
| 发明（设计）人： | 伊藤健一;会田博之;小柳津英二;福田幸洋;齐藤昭久;藤泽晶子;本间克久 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 包于俊 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | X射线检测器具备用隔板39分离每个像素的闪烁体层38与将该闪烁体层38变换的荧光变换为信号电荷的光电二极管13，其中当形成闪烁体层38的荧光体粒子的平均粒径为Ds、构成隔板39的粒子的平均粒径为Dw时，Ds＞Dw。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测器 | ||
【主权项】：
1.一种X射线检测器，具备：像素单位的光电变换部、形成于所述光电变换部的各像素上的含有荧光材料I的闪烁体像素、以及设置于所述闪烁体像素间的含有荧光材料及/或非荧光材料的隔板，其特征在于，当所述荧光材料I的平径粒径为Ds、所述荧光材料及/或非荧光材料的平均粒径为Dw时， Ds＞Dw。
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