[发明专利]半导体晶片表面保护用粘结膜及用该粘结膜的半导体晶片的保护方法有效
申请号: | 03806441.3 | 申请日: | 2003-03-26 |
公开(公告)号: | CN1643657A | 公开(公告)日: | 2005-07-20 |
发明(设计)人: | 宫川诚史;片冈真;中岛纯;才本芳久;早川慎一;藤井靖久 | 申请(专利权)人: | 三井化学株式会社 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 钟晶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的半导体晶片表面保护用粘结膜在基体材料膜的单侧表面上形成粘结剂层,该粘结剂层含有:100重量份的具有可与交联剂反应的官能团、动态粘弹性的tanδ成为最大的温度(Ta)在-50~5℃的聚合物(A);10~100重量份的具有可与交联剂反应的官能团、动态粘弹性的tanδ成为最大的温度(Tb)大于5℃,小于等于50℃的聚合物(B);和相对于100重量份的上述(A)及(B)的合计量的0.1~10重量份的在1个分子中具有2个或2个以上的交联反应性官能团的交联剂(C),所述粘结剂层的厚度是5~50μm,该半导体晶片表面保护用粘结膜具有优良的粘合性、防止破损性和非污染性。 | ||
搜索关键词: | 半导体 晶片 表面 保护 粘结 方法 | ||
【主权项】:
1.半导体晶片表面保护用粘结膜,其在基体材料膜的单侧表面上形成粘结剂层,其特征在于,该粘结剂层含有:100重量份的具有可与交联剂反应的官能团、动态粘弹性的tanδ成为最大的温度(Ta)在-50~5℃的聚合物(A);10~100重量份的具有可与交联剂反应的官能团、动态粘弹性的tanδ成为最大的温度(Tb)大于5℃,小于等于50℃的聚合物(B);和相对于100重量份的上述(A)及(B)的合计量的0.1~10重量份的在1个分子中具有2个或2个以上的交联反应性官能团的交联剂(C),所述粘结剂层的厚度是5~50μm。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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