[发明专利]利用高次本征分量实施面部描绘和识别的方法和装置无效
| 申请号： | 03803603.7 | 申请日： | 2003-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN1630875A | 公开（公告）日： | 2005-06-22 |
| 发明（设计）人： | 高永晟;李作裕;申省梅;黄仲阳;妹尾孝宪 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/62 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王玮 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 用高次本征分量描述特定面部分量的具体区域的信息。给出的公式用来计算投影的高次变换矩阵。可以单独使用高次分量特征来描述面部分量或与一次分量特征组合来描述。由于可以用高次分量特征揭示具体区域的特征信息，因此，根据对应区域显著的特征信息，具有不同加权的眼睛、眉毛、鼻子、嘴和轮廓的一次分量特征和高次分量特征的组合与一次本征面部特征或一次和高次本征面部特征的组合相比能够更好地描绘面部。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 分量 实施 面部 描绘 识别 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种提取用于面部描绘的分量特征的方法，包括步骤：处理训练模式操作，包括：分析多个训练面部图像；利用分析过的训练面部图像计算一次本征分量U(1)；利用分析过的训练面部图像计算二次本征分量U(2)；和处理测试模式操作，包括：分析测试面部图像；和利用二次本征分量U(2)获得测试面部图像使用的二次分量特征W(2)。
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