[发明专利]基于低频频谱分量的样本检测无效
| 申请号: | 03801223.5 | 申请日: | 2003-04-18 |
| 公开(公告)号: | CN1564940A | 公开(公告)日: | 2005-01-12 |
| 发明(设计)人: | 约翰·T·布特斯;本奈特·M·布特斯;利萨·C·布特斯 | 申请(专利权)人: | 韦弗拜克公司 |
| 主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李玲 |
| 地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 本发明涉及用于样本中的选定物质的方法和设备。在所述方法中,为了产生一个由样本源辐射组成的电磁时域信号,因而将所述样本(842)邻近检测器线圈(846)放置。首先对所述信号进行调节,以便将信号转换成一个经过放大和调节的信号,其中从所述经过放大和调节的信号中去除了高于一个选定频率的频率分量,然后则对所述信号进行滤波,以便有选择地通过那些(i)处于DC和50KHz之间的频率范围中并(ii)表征选定物质的低频频谱分量。经过滤波的信号与(i)处于DC和50KHz之间的频率范围中并(ii)表征选定物质的低频频谱分量的数据集进行互相关,以便在DC到50KHz以内的频率范围中产生一个频域频谱。然后则使用这个频谱来确定频域频谱是否包含了一个或多个表征选定物质并诊断样本中是否存在所述物质的低频信号分量。 | ||
| 搜索关键词: | 基于 低频 频谱 分量 样本 检测 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测样本中的选定物质的设备,包括:(a)一个数据存储设备,用于保存包括选定物质在内的一种或多种预选物质中的每一种物质,以及一个数据集,其中包含了(i)处于从DC到50kHz之间的选定频率范围之中并且(ii)表征所述物质的低频频谱分量,(b)一个检测器部件,包括一个检测器线圈,用于在样本邻近所述线圈放置的时候产生一个时域信号,其中所述信号具有涉及样本中的选定物质所产生的低频电磁辐射的信号分量,(c)信号调节组件,用于将来自检测器线圈的信号转换成一个经过放大和调节的信号,其中已经从所述经过放大和调节的信号中去除了高于选定频率的频率分量,(d)一台可操作地连接到所述调节组件的电子计算机,以便从所述组件中接收经过调节的信号,并且通过以下步骤来处理这个信号:(i)从数据存储设备(a)中检索表征选定样本物质的低频频谱分量的一个数据集,(ii)以这样一种数字化方式来对经过调节的信号进行滤波,以便有选择地通过那些与所检索数据集中的频谱分量相对应的低频频谱分量;(iii)对来自(ii)的已滤波信号以及来自(i)的低频频谱分量数据集进行互相关,以便在DC到50kHz以内的频率范围中产生一个频域频谱;(iv)确定所述频域频谱是否包含一个或多个表征选定物质并诊断样本中是否存在这种物质的低频信号分量,以及(e)一个可操作地连接到所述计算机的接口设备,用于显示所述处理的输出。
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