[实用新型]多芯片封装结构无效
| 申请号: | 03205317.7 | 申请日: | 2003-08-01 |
| 公开(公告)号: | CN2636411Y | 公开(公告)日: | 2004-08-25 |
| 发明(设计)人: | 宫振越;何昆耀 | 申请(专利权)人: | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/58 | 分类号: | H01L21/58;H01L21/60;H01L25/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 李晓舒;魏晓刚 |
| 地址: | 台湾省台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本实用新型公开一种多芯片封装结构,至少包括一第一芯片、一第二芯片、多个凸块及多个接点。第一芯片具有一有源表面,第二芯片配置在第一芯片的有源表面上,而第二芯片垂直于第一芯片的有源表面的高度为h1。凸块位于第一芯片的有源表面与第二芯片之间,而凸块垂直于第一芯片的有源表面的高度为h2。接点凸出于第一芯片的有源表面,而接点垂直于第一芯片的有源表面的高度为h3,其中h3≥h1+h2。 | ||
| 搜索关键词: | 芯片 封装 结构 | ||
【主权项】:
1.一种多芯片封装结构,其特征在于,至少包括:一基板;多个接点;一第一芯片,具有一有源表面,该第一芯片的该有源表面朝向该基板,该些接点位于该第一芯片与该基板之间,该第一芯片及该基板以倒装芯片方式接合,而在垂直于该有源表面的方向上,该基板与该有源表面之间的距离为d;以及至少一封装模块,配置在该第一芯片与该基板之间,并与该第一芯片接合,其中该封装模块包含至少一芯片,而在垂直于该有源表面的方向上,该封装模块的整体高度为h1,其中d≥h1。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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