[发明专利]测试电路及其测试方法有效
| 申请号： | 03156560.3 | 申请日： | 2003-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN1595183A | 公开（公告）日： | 2005-03-16 |
| 发明（设计）人： | 李大军;陈进文 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 517057广东省深圳市科*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试电路及其测试方法，所述测试电路组成如下：由至少两个开关串联组成的串路；由至少两组所述串路并联组成的并路；与所述并路并联的测试模块；一端接至一组所述串路的任意两个所述开关之间，另一端接至另一组所述串路的任意两个所述开关之间的待测电子元件。所述测试方法通过控制待测电子元件所接至的两组串路中的各个开关的工作状态，来进行测试。通过采用本发明测试电路及其测试方法的测试设备具有体积小巧、造价成本低，测试结果精确的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测试电路，其特征在于，所述测试电路包括：由至少两个开关串联组成的串路；由至少两组所述串路并联组成的并路；与所述并路并联的测试模块；一端接至一组所述串路的任意两个所述开关之间，另一端接至另一组所述串路的任意两个所述开关之间的待测电子元件。
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