[发明专利]抛光方法和设备无效

专利信息
申请号: 03149104.9 申请日: 1995-09-13
公开(公告)号: CN1516247A 公开(公告)日: 2004-07-28
发明(设计)人: 森山茂夫;山口克彦;本間喜夫;松原直;石田吉弘;河合亮成 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;B24B1/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 朱德强
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种抛光方法及适用于此抛光方法的抛光设备,该方法利用包括磨料颗粒和粘合磨料颗粒的粘合树脂的磨石。利用粘合磨料颗粒的树脂,可以获得具有所需弹性模量的磨石。用此磨石,可以使有凹凸部分的衬底表面变平坦均匀,但与这些凹凸部分的尺寸无关。另外,首先用小弹性模量的抛光工具抛光衬底表面,然后用大弹性模量的抛光工具进行抛光,可以获得损伤减少的抛光表面。本发明的方法可以有效地平面化具有凹凸部分的各种衬底。
搜索关键词: 抛光 方法 设备
【主权项】:
1.一种半导体器件制造方法,用于通过对一形成在一半导体衬底的一表面上的薄膜进行抛光来平面化该半导体衬底的该表面,该半导体衬底在其一主表面上具有凹凸图形,包括下列步骤:将带有形成在其上的该薄膜的该半导体衬底的该表面压靠到一抛光工具的一表面;以及通过在该半导体衬底的该表面与该抛光工具的该表面之间的相对运动平面化在该半导体衬底上的凹凸图形;其中,该抛光工具是磨石,该磨石包括磨料颗粒和一用于粘合和固定该磨料颗粒的材料,该磨石的弹性模量为5-500kg/mm2。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/03149104.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top