[发明专利]电子装置的测试系统有效
| 申请号： | 03147252.4 | 申请日： | 2003-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN1566972A | 公开（公告）日： | 2005-01-19 |
| 发明（设计）人： | 蔡荣郎;江正伟 | 申请（专利权）人： | 宏达国际电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 台湾省桃*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种电子装置的测试系统，包括一主控制端及一可水平且上下移动的测试台，其中该主控制端是与该测试台相连接，令该测试台可依主控制端的指令，对电子装置进行各种测试，而测幅式台上可安装各种测试器具，当将待测试的电子装置与该主控制端相连接，进行测试时，该主控制端可操控测试台上的该测试器具，令其接近待测电子装置，并于待测电子装置上模拟各项实际使用的动作，此时，该待测电子装置将依该测试器具的模拟动作进行处理，同时并将处理信号，传送至该主控制端，如此，该主控制端即可依据各测试器具所模拟的动作，及待测电子装置的处理信号，判断待测电子装置是否可正常工作，并输出测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 装置 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种电子装置的测试系统，其特征在于，包括：一主控制端，是与待测电子装置相连接；一测试台，是与该主控制端相连接，其上设有一可水平左右移动并可上下移动的安装台，该安装台上可安装各种测试器具，令其可依主控制端的指令，操控该安装台移动，使测试器具被移动至接近待测电子装置，可进行测试的位置上，进行模拟各项实际使用动作的测试，以便该待测电子装置依测试器具的信号进行处理，同时并将处理的信号，传送至该主控制端，使该主控制端可将待测电子装置处理的信号，与其事先设定的数值相比较，而判断该待测电子装置是否可正常工作，并输出测试结果。
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