[发明专利]一种性能统计方法及数字芯片无效
| 申请号： | 03141097.9 | 申请日： | 2003-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN1458558A | 公开（公告）日： | 2003-11-26 |
| 发明（设计）人： | 张占龙 | 申请（专利权）人： | UT斯达康（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/12 | 分类号： | G06F1/12;G06F13/42;H04L12/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 吴丽丽 |
| 地址： | 100027 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种通用的性能统计方法。该方法通过抽取公共的异步时钟同步处理、性能加法、性能、性能清零的功能模块，把这些模块作为公共模块进行流水操作，顺序的完成多个性能的累加。此方法不仅适用于异步的性能统计，同样适用于同步的性能统计，最终达到节省IC设计面积与FPGA设计单元的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 性能 统计 方法 数字 芯片 | ||
【主权项】：
1.一种性能统计方法，所述方法包括如下步骤：一个多路选择步骤，用于对具有至少一个时钟域的多个性能进行多路选择，其中每个所述性能都有一个用于标示所述性能属于某个帧的帧指示信号；一个同步处理步骤，用于使所述多路选择步骤选择出的具有至少一个时钟域的多个性能均工作在同步处理装置的时钟下，以实现同步；以及一个性能统计步骤，用于对同步后的性能进行统计。
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