[发明专利]具有金属层分割道的阵列式工件的切割方法无效
| 申请号: | 03140787.0 | 申请日: | 2003-06-13 |
| 公开(公告)号: | CN1567565A | 公开(公告)日: | 2005-01-19 |
| 发明(设计)人: | 洪育民;潘德恩;蔡青益 | 申请(专利权)人: | 优力特科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78;H01L21/50;H01L21/304;B28C5/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 李树明 |
| 地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 一种具有金属层分割道的阵列式工件的切割方法,包含下列步骤:(A)准备一工件,该工件具有多数呈数组型态排列的半导体元件、数设置在该各半导体元件之间的导线架及数对应该导线架的分割道,且定义该分割道沿水平方向包含一中央余料段与位于该中央余料段两侧的左、右落刀段;(B)准备一切割单元,该切割单元至少具有一刀具;(C)进行切割操作,以该刀具切除该等左、右落刀段,切割完成后,就可获得多数呈单粒状且外围具有多数接点的半导体元件,且在相邻的半导体元件之间会留下该中央余料段。借此,刀具可反复地对不同材料部位进行切割,可提高切割产能、降低刀具磨耗及减少拖粘现象。 | ||
| 搜索关键词: | 具有 金属 分割 阵列 工件 切割 方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有金属层分割道的阵列式工件的切割方法,其特征在于:包含下列步骤:(A)准备一工件,该工件具有多数呈数组型态排列的半导体元件、数设置在该各半导体元件之间的导线架及数对应该导线架的分割道,该各导线架各具有一位于相邻二半导体元件中央的身部及多数由该身部二侧边往横向延伸且间隔设置的内引脚,该各内引脚并具有一与该身部相接的第一端部、一与该第一端部呈相反的第二端部及一由第一端部延伸至第二端部的第一宽度,该分割道沿垂直方向具有一金属层及一设于该金属层一侧的封装胶体层,且定义该分割道沿水平方向包含一中央余料段与位于该中央余料段两侧的一左落刀段及一右落刀段,其中该中央余料段对应于该身部,该左、右落刀段均介于内引脚的第一、二端部之间;(B)准备一切割单元,该切割单元至少具有一刀具,该刀具的一第二宽度是对应该左、右落刀段的宽度,且小于该内引脚的第一宽度;(C)进行切割操作,以该刀具切除该左、右落刀段,切割完成后,就可获得多数呈单粒状且外围具有多数接点的半导体元件,且在相邻的半导体元件之间会留下该中央余料段。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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