[发明专利]基于长周期光纤光栅的扭曲绝对测量方法及装置无效

专利信息
申请号: 03135393.2 申请日: 2003-07-09
公开(公告)号: CN1477371A 公开(公告)日: 2004-02-25
发明(设计)人: 饶云江;王义平 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G02B6/124;G01J3/00
代理公司: 重庆华科专利事务所 代理人: 康海燕
地址: 400044重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 基于长周期光纤光栅的扭曲绝对测量方法及装置,它是利用高频CO2激光脉冲在普通单模光纤中写入的长周期光纤光栅的谐振波长随着光栅扭曲而线性变化的特性,用这种长周期光纤光栅为传感元件制成新型扭曲绝对测量装置埋入智能材料中,实现对扭曲率的直接绝对测量,从而实现对工程结构扭曲的实时监控,具有广泛的应用前景。
搜索关键词: 基于 周期 光纤 光栅 扭曲 绝对 测量方法 装置
【主权项】:
1、基于长周期光纤光栅的扭曲绝对测量方向,其特征在于以用高频CO2激光脉冲在普通单模光纤中写入的长周期光纤光栅为测量的传感元件,该传感元件被埋入到被测物体扭转轴的轴线上,光纤一端用宽带光源作为输入,另一端用光谱分析仪测量长周期光纤光栅透射光谱的变化,根据长周期光纤光栅的谐振波长随光栅扭曲而线性变化的特性,采用如下公式,得到被测物体扭曲率的绝对值τ∶τ=Δλ/k,其中K为谐振波长的扭曲灵敏度,Δλ为被测得的谐振波长的变化量。
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