[发明专利]痕量元素与同位素分析用洁净室无效

专利信息
申请号: 03132374.X 申请日: 2003-08-18
公开(公告)号: CN1553195A 公开(公告)日: 2004-12-08
发明(设计)人: 王银喜;李惠民;杨杰东;王百诚 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01N37/00 分类号: G01N37/00;F24F3/16;B01L1/04
代理公司: 南京知识律师事务所 代理人: 陈建和
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 痕量元素与同位素分析用洁净室,洁净室是一个正压区,送排风管道结构如下:所有进入超净区的风经过设在管道上的三级过滤器,空气进风管上设有粗效过滤器和中效过滤器,然后经过主管道送至各房间的静压箱中,再经过高效过滤器输入室内,室内设有回风口。本发明提供了一种能提供大区域的洁净室,并有化学防酸防腐功能,满足仪器测量的要求,包括进行痕量元素与同位素分析,单颗粒锆石分析,也用于各种无机和有机理化分析和高纯材料的制备用洁净室。超净工作台洁净度,每立方英尺空气中含≥0.5μm尘粒数经检测低于30粒,按我国洁净厂房设计规范(GBJ73-84)优于100级,符合设计要求。
搜索关键词: 痕量 元素 同位素 分析 洁净室
【主权项】:
1、痕量元素与同位素分析用洁净室,洁净室是一个正压区,其特征是送排风管道结构如下:所有进入超净区的风经过设在管道上的三级过滤器,空气进风管上设有粗效过滤器和中效过滤器,然后经过主管道送至各房间的静压箱中,再经过高效过滤器输入室内,室内设有回风口。
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