[发明专利]半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 03122392.3 申请日: 2003-05-09
公开(公告)号: CN1457094A 公开(公告)日: 2003-11-19
发明(设计)人: 伊藤富士夫;铃木博通 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所;日立超大规模集成电路系统株式会社
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/28;H01L21/50
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 季向冈
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种半导体器件及其制造方法,提高在封装的背面上具有外部连接端子的QFN(方形扁平无引脚封装)的装配精度。QFN1的密封体3在沿着其背面一侧的对角线方向的2个拐角部分上设置有切口部分8。在从这些切口部分8露出来的悬空引线5b的一部分上,设置具有圆形的平面形状的识别标记15,成为使得在把QFN1装配到布线基板上时,可以有光学方法从密封体3的上方检测该识别标记15。识别标记15,可采用用蚀刻除去或用冲压机冲压构成悬空引线5b的金属板的一部分的办法形成。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,具有半导体芯片;装载了上述半导体芯片的管芯焊盘部分;支持上述管芯焊盘部分的悬空引线;配置在上述管芯焊盘部分的周围的多条引线;电连接上述半导体芯片和上述引线的多条金属丝;以及密封上述半导体芯片、上述管芯焊盘部分、上述悬空引线、上述多条引线和上述多条金属丝的密封体,其特征在于:在上述多条引线的各条引线上,有选择地设置从上述密封体的背面向外部突出来的外部连接端子;上述悬空引线,其一部分从上述密封体的上面露出到外部;在从上述密封体的上面露出到外部的区域的上述悬空引线上,形成了用于使上述外部连接端子位置对准到布线基板上的识别标记。
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