[发明专利]光罩组合及其形成细线图案的曝光方法有效

专利信息
申请号: 03121435.5 申请日: 2003-03-27
公开(公告)号: CN1470943A 公开(公告)日: 2004-01-28
发明(设计)人: 戴昌铭;张仲兴;游展汶;林本坚 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F1/16
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 马娅佳
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭露一种光罩组合,包括:一第一光罩,具有平行且交错排列的复数相位0度透光区与复数相位180度透光区;以及一第二光罩,具有一透明基底与一条状遮光层,其中上述条状遮光层覆盖于上述透明基底部分表面,上述条状遮光层的宽度不小于上述相位0度透光区与上述相位180度透光区的间距。本发明亦揭露透过光罩组合曝光以形成细线图案的方法。
搜索关键词: 组合 及其 形成 细线 图案 曝光 方法
【主权项】:
1.一种细线图案的曝光方法,包括:提供一第一光罩,具有平行且交错排列的复数相位0度透光区与复数相位180度透光区;提供一第二光罩,具有一透明基底与一条状遮光层,其中上述条状遮光层覆盖于上述透明基底部分表面,上述条状遮光层的宽度不小于上述相位0度透光区与上述相位180度透光区的间距;以及分别透过上述第一光罩与上述第二光罩,曝光出一第一曝光图案与第二曝光图案,其中上述第一曝光图案具有平行排列的复数明亮区,上述第二曝光图案具有一条状暗区,使上述第一条状暗区呈现于上述相邻明亮区间隔之一之位置。
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