[发明专利]测量装置和对应方法无效

专利信息
申请号: 03120836.3 申请日: 2003-03-20
公开(公告)号: CN1450741A 公开(公告)日: 2003-10-22
发明(设计)人: 史蒂文·柏尔 申请(专利权)人: 安捷伦科技有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 北京东方亿思专利代理有限责任公司 代理人: 杜娟
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 已知的频谱分析仪能够完成与有一个或者两个载波信号的输入信号相关的多载波功率(Multi-CarrierPower,MCP)测量。然而,为了完成MCP测量,每个载波信号的功率不得不分别测量,结果当两个以上载波信号要被测量时,麻烦的测量过程就容易导致错误。通过允许频谱分析仪(100)的使用者配置载波频率的每个潜在位置,本发明解决了这些问题,因而使得频谱分析仪对存在于输入信号中的每个载波信号能完成与之相关的MCP测量。因此当测量两个以上载波信号时就获得了一种更有效、更准确的测量方法。
搜索关键词: 测量 装置 对应 方法
【主权项】:
1.一种测量装置,包括频谱分析单元(100),该单元有接收待测量输入信号的输入端,该输入信号包含位于预定频带内的载波信号;其特征在于:所述频谱分析单元(100)被设置以存储一套包含频带内载波信号位置的参数,并使用这套参数测量与所述载波信号相关的数值。
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