[发明专利]采用磁阻元件的位置确定装置有效
| 申请号： | 03120655.7 | 申请日： | 2003-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN1445512A | 公开（公告）日： | 2003-10-01 |
| 发明（设计）人： | 上野山博文 | 申请（专利权）人： | 株式会社电装 |
| 主分类号： | G01D5/245 | 分类号： | G01D5/245;G01P3/488 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 周备麟,黄力行 |
| 地址： | 日本爱知*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在例如凸轮轴齿轮的转子位置检测装置中，磁性传感器由第一，第二，第三和第四MRE桥构成。该桥与偏磁磁铁的磁性轴线对称布置。第三桥布在第一桥和磁性轴线之间的中点上。第四桥布在第二桥和磁性轴线之间的中点上。将桥的输出输入至差动放大器电路，以得到单一的差动输出。不论转子的齿轮齿的形状如何，根据差动输出，确定转子的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 磁阻 元件 位置 确定 装置 | ||
【主权项】：
1.一种位置检测装置，它包括：一个在其外周边周围有齿轮齿的转子；一个偏磁磁铁，它向齿轮齿发射偏磁磁场；一个磁性传感器，它在转子和偏磁磁铁之间至少有第一、第二、第三和第四磁阻元件桥，该磁阻元件桥产生的输出按照偏磁磁场的方向改变；和差动输出计算装置，它根据磁阻元件桥的输出进行多级微分计算，并得到单一的差动输出；其中，第一和第二桥与偏磁磁铁的磁性轴线对称布置，第三桥布置在第一桥和磁性轴线之间的中点上，而第四桥布在第二桥和磁性轴线的中点上。
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