[发明专利]激光二极管自动测试系统无效

专利信息
申请号: 03118464.2 申请日: 2003-01-14
公开(公告)号: CN1431520A 公开(公告)日: 2003-07-23
发明(设计)人: 陈汉汛;吉孔武;刘建国;徐达伟 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;H01L21/66;G01M11/02
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人: 钟锋
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及激光二极管自动测试系统,它包括:计算机、接收计算机指令并向被测激光二极管加载电流的电流源、用于测量被测激光二极管的发光功率并输出信号的光探测器、A/D变换器、D/A变换器。本发明系统可以直接对从晶元中解理出来的线性排列的激光二极管进行测试,操作员除了在测试开始时需要安装与定位激光二极管,以及在测试结束后取下激光二极管外,其他测试过程全部自动进行。本发明系统的测试精度高,测试速度快,并可以适用于多种LD型号和LD生产线多种工位测试需求的优点,使用本发明系统可极大地提高LD的生产率和产品质量。
搜索关键词: 激光二极管 自动 测试 系统
【主权项】:
1、激光二极管自动测试系统,其特征在于:它包括:计算机、接收计算机指令并向被测激光二极管加载电流的电流源、用于测量被测激光二极管的发光功率并输出信号的光探测器、用于接收光探测器输出的模拟信号并向计算机输出数字信号的A/D变换器、用于接收计算机输出的数字信号指令并向电流源输出模拟信号指令的D/A变换器。
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