[发明专利]纳米粉体材料紫外屏蔽性能评估方法

摘要

一种纳米粉体材料紫外屏蔽性能评估方法，属于材料性能评估技术领域，操作步骤包括虹吸器的制备、待评估纳米粉体材料分散体系的建立、本底的建立、待评估的纳米粉体材料紫外屏蔽曲线的测定和紫外屏蔽性能评估。选择乙二醇为分散剂，利用虹吸技术进行自动涂膜，具有较高的准确度和良好的重现性，成本低，分析测试速度快，和数据重现性好。本发明所述的评估方法，不仅能评估纳米粉体材料紫外屏蔽性能，还能对新纳米粉体材料的开发与表征提供可靠的评估手段；同时本发明为日用化学工业筛选合适的紫外屏蔽剂提供了重要的参考依据，在材料和日用化工等领域有着广阔的应用前景。

主权项

1.一种纳米粉体材料紫外屏蔽性能的评估方法，其特征在于，具体操作步骤：第一步虹吸器的制备虹吸器由两片石英玻璃板1组成，石英玻璃板1呈矩形，规格为45mm×10mm×1mm，每片石英玻璃板1上均沿两条较长边的边缘粘有胶带2，胶带2的宽度和厚度分别为1.5mm和0.05mm，然后将两片石英玻璃板1粘有胶带2的一面相对放置，并用回形针夹紧，使两片石英玻璃板1之间形成间隙为0.1mm的夹层；第二步待评估纳米粉体材料分散体系的建立待评估纳米粉体材料分散于乙二醇中，超声搅拌，制成待评估纳米粉体材料分散体系，待评估纳米粉体材料在该分散体系中的质量百分比含量为0.2％；第三步本底的建立将所述的虹吸器下端浸入乙二醇液面下0.5cm处，乙二醇顺着石英玻璃板1之间的夹层慢慢虹吸至石英玻璃板1顶端，形成薄膜3，待乙二醇充满虹吸器后，将虹吸器一端用胶带封口，并将封口端向下放置于紫外-可见分光光度计中，扫描薄膜3，扫描采用的参数为：光程为0.1mm，扫描范围700nm～200nm，采样点间隔0.5nm，扫描速度2400nm/min，扫描结果作为本底；第四步待评估的纳米粉体材料紫外屏蔽曲线的测定按第三步的步骤操作，将该步中的乙二醇换成第二步制备的待评估纳米粉体材料分散体系，扫描结果即为该材料的紫外屏蔽曲线；第五步紫外屏蔽性能评估制定纳米粉体材料紫外屏蔽性能的评估标准：在波长介于200nm～400nm的紫外光区，最大吸光度值A≥0.7的纳米粉体材料，其紫外屏蔽性能评估为优良级，最大吸光度值A＜0.4的纳米粉体材料，其紫外屏蔽性能评估为不良级，介于两者之间，即0.4≤最大吸光度值A＜0.7的纳米粉体材料，其紫外屏蔽性能评估为合格级，将第四步中测得的结果与此标准相对照，即可评估出纳米粉体材料的紫外屏蔽性能的级别。