[发明专利]射线检测仪、其制造方法和射线CT装置无效
| 申请号： | 03108204.1 | 申请日： | 2003-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN1447131A | 公开（公告）日： | 2003-10-08 |
| 发明（设计）人： | 角田健一;松井进 | 申请（专利权）人： | 日立金属株式会社 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20;G11B5/84 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 蔡胜有 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 由于辐射，使射线检测仪中的树脂经历了性质变化。这种性质变化包括树脂的光反射率和透光率衰减。树脂性质变化所导致的一种后果是检测器的输出电流降低，并影响了检测仪的操作寿命。提供了一种射线检测仪和CT装置，它们甚至在大量辐射下，检测仪的输出电流衰减很小，并且工作寿命长。使用金红石型氧化钛粉末和聚酯树脂的固化混合物用于覆盖闪烁器的光反射材料。并且，使用聚酯树脂来将闪烁器和半导体光电检测元件结合到一起。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测 制造 方法 ct 装置 | ||
【主权项】：
1.一种射线检测仪，包括：具有多个半导体光电检测元件的半导体光电检测元件阵列；多个闪烁器设置并固定到位于半导体光电检测元件阵列上的各自的半导体光电检测元件上；和光反射材料，该材料由聚酯树脂和金红石型氧化钛粉末的混合物组成，除闪烁器面向半导体光电检测元件阵列的表面外，用该材料覆盖闪烁器的外周面。
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