[发明专利]用于检测和校正光存储介质上的相关地址的装置和方法无效
| 申请号： | 03107956.3 | 申请日： | 2003-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN1450533A | 公开（公告）日： | 2003-10-22 |
| 发明（设计）人： | 严佑植 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹,邵亚丽 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于检测和纠正光存储介质上的相对地址的装置和方法。该装置包括：相对地址检测器，其读取记录在光存储介质中的相对地址；相对地址连续性检测器，其查看是否从该相对地址检测器输出的相对地址之间的停留(continuance)数量至少是一个预定的数量N；以及相对地址纠正器，在相对地址连续性检测器确定相对地址之间的停留数量至少是一个预定的数量N之后，其强制纠正与前一个相对地址不连续的一个当前相对地址，并输出被纠正的相对地址。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 校正 存储 介质 相关 地址 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测和纠正光存储介质上的相对地址的装置，该装置包括：相对地址检测器，其读取记录在光存储介质中的相对地址；相对地址连续性检测器，其查看是否从该相对地址检测器输出的相对地址之间的停留(continuance)数量至少是一个预定的数量N；以及相对地址纠正器，在相对地址连续性检测器确定相对地址之间的停留数量至少是一个预定的数量N之后，其强制纠正与前一个相对地址不连续的一个当前相对地址，并输出被纠正的相对地址。
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