[发明专利]电子部件试验装置无效
| 申请号： | 02828818.1 | 申请日： | 2002-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN1625695A | 公开（公告）日： | 2005-06-08 |
| 发明（设计）人： | 伊藤明彦;中村浩人 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 何腾云 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种电子部件试验装置，在将被试验电子部件搭载于电子部件输送介质(11、12、13、14)的状态下由移动机构将被试验电子部件的输入输出端子推压到测试头部(100)的触头部进行测试；其中：同时地由一方的移动机构把持搭载了被试验电子部件的2片电子部件输送介质(11、12)，由另一方的移动机构把持搭载了被试验电子部件的2片电子部件输送介质(13、14)，各移动机构独立地进行相对触头群的送入送出。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子部件试验装置，在将被试验电子部件搭载于电子部件输送介质的状态下由移动机构将上述被试验电子部件的输入输出端子推压到测试头的触头部进行测试；其特征在于：具有1个或多个可同时把持搭载了上述被试验电子部件的多片上述电子部件输送介质、相对上述触头部送入送出的上述移动机构。
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