[发明专利]探测三维物体外形的方法和设备无效
| 申请号： | 02826772.9 | 申请日： | 2002-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN1613001A | 公开（公告）日： | 2005-05-04 |
| 发明（设计）人： | 拉尔夫·门策尔 | 申请（专利权）人： | 科利迪尤斯精密系统有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01S17/89 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 臧建明;经志强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的目的是提供一种探测三维物体外形的设备和方法，该方法探测时间极短，尤其比目前技术条件下已知方法的探测时间明显要短，因此该方法另外也适用于探测快速运动的或者快速变化的被测物体的三维外形。根据本发明，由待测物体散射的和/或反射的和/或发射的光线的传播时间作为光强调制被编码，并测量光强或光强分布。以光强分布的测量数值可以求得该三维物体的外形。 | ||
| 搜索关键词： | 探测 三维 物体 外形 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.探测三维物体外形的方法，包括步骤：a)对由待测物体散射的和/或反射的和/或发射的光的传播时间作为光强调制进行编码，b)测量光强或光强分布，c)对测量数据进行计算并求得该三维物体的外形。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于科利迪尤斯精密系统有限公司，未经科利迪尤斯精密系统有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02826772.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：半导体集成电路器件的制造方法
- 下一篇：发光二极管照明装置及聚光灯
