[发明专利]带有不同硅厚度的绝缘膜上硅装置有效

专利信息
申请号: 02825548.8 申请日: 2002-12-19
公开(公告)号: CN1606807A 公开(公告)日: 2005-04-13
发明(设计)人: D·A·尚;W·G·恩;J·G·佩尔兰;M·W·米歇尔 申请(专利权)人: 先进微装置公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 戈泊;程伟
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种制造半导体装置的方法是包括在一绝缘层(12)上方加上一硅层(14),且部分去除该硅层(14)的第一部分。该硅层(14)包括第一部分与第二部分,且第二部分的厚度大于第一部分的厚度。开始的时候,该硅层(14)的第一与第二部分的厚度有可能有相同的厚度。也揭示一种半导体装置。
搜索关键词: 带有 不同 厚度 绝缘 膜上硅 装置
【主权项】:
1.一种制造半导体装置的方法,其包括以下的步骤:在一绝缘层12上方加上一硅层14,该硅层14包括一第一部份与一第二部份;部份去除该硅层14的第一部份,其中第二部份的厚度大于第一部份的厚度。
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